XFlash® 7

Elementární analýza v transmisní elektronové mikroskopii v nanometrovém měřítku

XFlash® 7 – EDS detektor pro TEM, STEM a T-SEM

Identifikujte a kvantifikujte všechny přítomné prvky díky využití vyšších energetických hladin.

S TEM, STEM a T-SEM lze snadno a rychle využít kvantifikační postupy založené na teoretických a experimentálních faktorech Cliff-Lorimer a také na interpolaci faktoru Zeta!

Mapuje periodické struktury (atomy, hladiny) s vysokou stabilitou stejně tak jako neperiodické vlastnosti díky driftové korelaci pro korekci posunu.