Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter

Další generace in-situ testovacích nanomechanických přístrojů

Bruker představil další generaci indentačních přístrojů Hysitron PicoIndenter pro skenovací elektronové mikroskopy: PI 89 SEM PicoIndenter. Díky vylepšením technologie kapacitního transduceru nabízí PI 89 SEM testování větší zátěží, v extrémnějším prostředí a výkonost v nanomechanickém testování.

Unikátní vlastnosti:

Nedostižná kontrola a výkon
Poskytuje poziční kontrolu od méně než 1 µN do 3.5 N, rychlost zpětné vazby 78 kHz a sběru dat až 39 kHz, což umožnuje zachycení i rychlých, transientních jevů

Všestranný modulární design
podporuje celou řadu in-situ testovacích technik a volitelných modulů včetně zvýšené teploty, nanoTribology, elektrické charakterizace, nanoDynamic, Push-to-Pull (PTP), direct-pull tension, high strain rate a scanning probe microscopy imaging

Inovativní technologie stolku
Umožňuje precizní kontrolu polohy vzorku v XYZ, rotaci a náklonu pro spolehlivé a opakovatelní testování, mapování vlastností, in-situ FIB milling a analytické zobrazovací techniky s detektory EBSD, EDS, BSE a TKD.