Hysitron PI 85E

Rozšíření možností o nanomechanické testování pro skenovací elektronové mikroskopy.

Hysitron PI 85E rozšiřuje možnosti nanomechanického testování v oblasti v mikro a nano měřítku.
Tento nanomechanický testovací systém s hloubkovým snímáním je speciálně navržen, aby využil pokročilé zobrazovací schopnosti rastrovacích elektronových mikroskopů (SEM, FIB/SEM, PFIB) při současném provádění kvantitativního nanomechanického testování. Rozšíření rozsahu sil umožňuje měření velkých a tvrdých materiálů vyžadující větší síly.

Přístroj PI 85E nabízí testování pomocí indentace, tlaku, tahu a únavy materiálu v celém spektru materiálů (od kovů a slitin po keramiku, kompozity a polovodičové materiály). Kompaktní, nízkoprofilová architektura PI 85E z něj dělá ideální zařízení pro malokomorové SEM, Ramanovy a optické mikroskopy, urychlovače a další. 

Modulární – Sada základních testovacích technik
Podporuje nanoindentaci, kompresi, tah, únavu materiálu, PTP, E-PTP a elektrickou charakterizaci.

Nezbytný – SEM příslušenství
Umožňuje spolehlivá měření technikům a operátorům v zařízeních pro více uživatelů.

Rozšíření – silový rozsah
Poskytuje možnosti vysokého a nízkého posunu pro testování vysoce pevných a vysoce poddajných vzorků.