DXF 900
Výkonný vysokorychlostní xenonový zdroj a patentovaná dodávací optika pro nejpřesnější měření tepelné difuzivity až do 900 °C.
Platforma Discovery Xenon Flash DXF 900 obsahuje patentovaný zdroj High-Speed Xenon-pulse Delivery™ (HSXD) a anamorfní mnohostranný Light Pipe™. Tyto optiky společně dodávají vzorku nepřekonatelnou sílu a stejnoměrnou intenzitu světelného pulzu, přičemž zabraňují nadměrnému záblesku držáku vzorku. Konstrukce TA Instruments High-Energy Xenon je schopna testovat vzorky až do průměru 25,4 mm v teplotním rozsahu od okolní teploty do 900 °C. Použití velkých vzorků snižuje chyby spojené s nehomogenitou a umožňuje reprezentativní měření špatně rozptýlených kompozitů. Platforma DXF je určena pro výzkumné a vývojové programy i řízení výroby.
Vlastnosti DXF 900
- Patentovaný systém High-Speed Xenon Pulse-Delivery poskytuje o 50 % více energie než konkurenční konstrukce pro nejvyšší stupeň přesnosti na nejširším rozsahu vzorků bez ohledu na tloušťku nebo tepelnou vodivost
- Patentovaný Light Pipe™ pro nejúčinnější sběr a kolimaci světla a homogenní dodávku záření do vzorku
- Pulzní mapování v reálném čase pro vynikající tepelnou difuzivitu tenkých a vysoce vodivých materiálů
- Široká škála podnosů na vzorky pojme různé velikosti vzorků (až do průměru 25,4 mm), tvary a speciální přípravky (kapaliny, prášky, lamináty, filmy atd.) pro maximální flexibilitu testování vzorků
- Autosampler s patentovanou čtyřpolohovou miskou na vzorky z oxidu hlinitého pro maximální produktivitu
- Pokročilá konstrukce odporově vyhřívané pece poskytuje ve své třídě nejlepší teplotní stabilitu a rovnoměrnost napříč vzorkem od RT do 900 °C a umožňuje měření ve vzduchu, inertním plynu nebo vakuu
- Vysoce citlivý IR detektor pro optimální poměr signálu k šumu, který poskytuje nejvyšší přesnost v celém rozsahu teplot
- Navrženo tak, aby splňovalo průmyslové standardní testovací metody včetně ASTM E1461, ASTM C714, ASTM E2585, ISO 13826, ISO 22007-část 4, ISO 18755, BS ENV 1159-2, DIN 30905 a DIN EN821
Specifikace
Laserový zdroj
| Typ | Benchtop |
| Energie pulzu (proměnná) | až 15 Joules |
| Délka pulzu | 400 µs – 600 µsec |
| Proprietární přenosová optika | Patentovaný vedený optický paprsek |
Pec
| Teplotní rozsah | RT – 900°C |
| Atmosféra | Vzduch, inertní plyn, vakuum (50 mtorr) |
Detekce
| Rozsah tepelné difuzivity | 0.01 – 1000 mm2/s |
| Rozsah tepelné vodivosti | 0.1 – 2000 W/(m*K) |
| Získávání dat | 16 bit |
Přesnost
| Tepelná difuzivita | ±2.3% |
| Tepelná vodivost | ±4% |
Opakovatelnost
| Tepelná difuzivita | ±2.0% |
| Tepelná vodivost | ±3.5% |
Vzorek
| Kulatý | 8, 10, 12.7, & 25.4 mm průměr |
| Čtvercový | 8, 10, & 12.7 mm délka |
| Maximální tloušťka | 10 mm |
Autosampler
| Typ | Čtyřpolohový lineární zásobník |