Dimension HPI
Nejproduktivnější průmyslový R&D AFM
Systém Dimension HPI, navržený speciálně pro velkoobjemová produkční prostředí, umožňuje automatizovaná měření mnoha režimů AFM a zároveň zajišťuje maximální snadnost použití a nejnižší náklady na měření pro kontrolu kvality, zajištění kvality a analýzu výrobních vad. Dimension HPI pomocí kontaktní metody, tappingu a režimu PeakForce tappingu umožňuje uživatelům přesně řídit interakci mezi sondou a vzorkem a poskytuje dlouhou životnost hrotu s vysoce přesnými výsledky v tisících měření.
Inovativní PeakForce Tapping
Minimalizuje boční sílu na sondu pro ochranu vzorku, delší životnost sondy a nejkonzistentnější měření.
Exkluzivní sondy FastScan AFM
Poskytujte nejnižší náklady na měření a zaručujte nejspolehlivější data.
Snadno použitelný automatizovaný software
Dělá z každého uživatele odborníka na AFM a zajišťuje konzistenci mezi operátory.
Nejširší rozsah měření
Od exkluzivních režimů PeakForce Tapping až po tradiční režimy AFM.
Dimension HPI poskytuje největší rozsah a flexibilitu pro splnění specifických výrobních metrologických potřeb na široké škále vzorků, bez složitého nastavení při výzkumu AFM.
Rychlá nanoelektrická metrologie
Technologie FastScan s Conductive-AFM (CAFM) může provádět měření proudu v nanoměřítku při vysokých rychlostech skenování, což výrazně zvyšuje efektivitu měření analýzy vad. Pomocí konzole mikroskopu s malou magnetickou silou (MFM) poskytuje FastScan HPI více než 10násobné zvýšení rychlosti skenování pro aplikace MFM s výjimečnou kvalitou dat pomocí PeakForce Tapping. PeakForce KPFM™ poskytuje nejvyšší prostorové rozlišení a nejpřesnější měření povrchového potenciálu. PeakForce TUNA™ poskytuje nejcitlivější měření vodivosti.
Přesné nanomechanické mapování
Jedinečné režimy mechanického mapování nanometrů PeakForce QNM a FastForce Volume™ společnosti Bruker mohou přesně mapovat mechanické vlastnosti – modul, tuhost, adhezi, rozptyl a deformaci – a současně zobrazovat topografii vzorku a elektrické vlastnosti. PeakForce QNM umožňuje nedestruktivní měření na polymerech, tenkých filmech a defektech v nanoměřítku neměřitelných technikami transmisní elektronové nebo skenovací elektronové mikroskopie.
Mám zájem o přístroj
Kontaktujte našeho obchodníka
Dušan Novotný
obchodní zástupce
- +420 739 420 134
Kontaktujte našeho obchodníka
Jakub Horák
obchodní zástupce
- +420 730 896 958