Stolní elektronový mikroskop s vysokým zvětšením 100 000x


Stolní elektronové mikroskopy řady SNE-4500 dosahují rozlišení klasických floor-top mikroskopů při udržení kompaktní velikosti. Mikroskop je v režimu sekundárních elektronů (SE) schopen při maximálním urychlovacím napětí 30 kV dosáhnout rozlišení až 5 nm.

Mikroskop cílí zejména na uživatele, kteří vyžadují rutinní inspekci vzorků ve vysokém rozlišením. Této filosofii odpovídá i design a software zaměřený na vysokou produktivitu a snadnost použití. Všechny běžné hlavní ladící parametry (stigmatismus, ostrost, kontrast a jas) mohou být použity v automatickém režimu zajišťující komfortní použití i pro začínající uživatele.

Pohyb vzorku v mikroskopu je možný v pěti stupních volnosti - X, Y, Z, otáčení v rovině držáku vzorku a jeho naklánění (manuální).

Hlavní technické parametry:

Elektronový systém:

•   Rozlišení: 5 nm (30 kV,  mód sekundárních elektronů)
•   Zvětšení: 20x - 100 000x
•   Urychlovací napětí: 1 - 30 kV (1/5/10/15/20/30 kV)
•   Detektor: pro sekundární elektrony
•   Zdroj elektronů: wolframové vlákno

Pohyb vzorku:    

•   Pětiosový systém: X, Y, Z, R, T - manuální
•   Osy X, Y: 40 mm / rotace R: 360°
•   Osa Z: 0 - 35 mm / manuální naklánění T: 0 - 45°
•   Maximální velikost vzorku: 80 mm v průměru, výška 35 mm

Automatické funkce Auto Start, Auto Focus, Auto Stigmator, Auto Contrast & Brightness

Vakuový systém: pro vysoké vakuum (možnost nízkého vakua)
Čerpání rotační/turbomolekulární vývěva (plně automatické)

Rozměry:

•   Hlavní jednotka: 390 x 560 x 380 mm (šířka x výška x hloubka), 88 kg
•   Kontrolní jednotka: 390 x 560 x 325 mm (šířka x výška x hloubka), 37 kg
•   Rotační vývěva: 400 x 340 x 160 mm (šířka x výška x hloubka), 24 kg

Volitelná varianta SNE-4500M Plus B má navíc detektor zpětně odražených elektronů (BSE) pro dodatečnou informaci o těžkých prvcích v povrchu vzorku. Snímky s BSE detektorem dosahují rozlišení až 8 nm při urychlovacím napětí 30 kV.

Pro další informace prosím navštivte stránky výrobce SNE-4500M, resp. SNE-4500P, nebo se obraťte na nás.

Volitelné příslušenství:

Naprašovačky

Energiově rozlišená rentgenová spektroskopie:

EDAX Element SDD series
BRUKER XFlash 630 H




další produkty této měřící techniky:
      • SNE-4500M Plus A
      • SNE-4500M Plus B
      • SNE-3200M
      • EDS systém EDAX Element SDD series
      • EDS systém BRUKER XFlash 630 H
      • Naprašovačky pro pokovování vzorků MCM

  Kontakty:


Měřicí technika Morava s.r.o, Babická 619, 664 84 Zastávka u Brna, Česká republika

e-mail: info@mt-m.eu         tel: + 420 513 034 408               podrobné kontakty:         on line schůzka: