Dimension Icon

Vysoké rozlišení s jistotou – kdykoli a vždy

Mikroskop atomárních sil Dimension Icon s modulem ScanAsyst přináší novou dimenzi výkonu, funkčnosti a dostupnosti AFM pro výzkum nanostruktur ve vědě a průmyslu. Nejnovější systém Dimension navazuje na předchozí generace AFM pro velké vzorky a je vyvrcholením desítek let technologických inovací, zpětné vazby od zákazníků a aplikační flexibility, vše z vedoucí pozice na průmyslovém trhu.

Icon byl od základů navržen tak, aby dodal revolučně malý drift (nízký šum (Celková nelinearita měření (X-Y-Z) se pak pohybuje pod 0,5 %. To umožňuje uživatelům dosáhnout snímků bez rušivých artefaktů během pár minut oproti několika hodinám a celkově tak zvyšuje produktivitu práce s přístrojem.

Icon je vybaven nástrojem ScanAsyst, který umožňuje automatickou optimalizaci obrazu. Díky tomu přináší jednodušší, rychlejší a konzistentnější výsledky bez ohledu na úroveň zkušeností uživatele. Hardware i software AFM Dimension Icon je navržený pro plné využití všech současných a budoucích Bruker AFM režimů a technik včetně revolučního módu PeakForce QNM.

Nevídaná jednoduchost použití, špičkový výkon, výjimečná produktivita a dokonalá všestrannost dělají z AFM mikroskopu Icon ideální volbu pro prakticky jakoukoliv aplikaci. Nikdy nebylo tak snadné získat takto kvalitní data tak rychle.

Dimension Icon je možné pořídit také s možností kolokalizované mikro-ramanovské spektroskopie pro dodatečnou informaci o chemickém složení vzorku.

AFM režimy

Standardní –  ScanAsyst, TappingMode (vzduch), Contact Mode, LateralForceMicroscopy, PhaseImaging, Lift Mode, MFM, ForceVolume, EFM, SurfacePotential, PiezoresponseMicroscopy, Silová spektroskopie

Volitelné – PeakForce QNM, PeakForce Tuna, HarmoniX, Nanoindentation, Nanomanipulace, Nanolithografie, ForceModulation (vzduch/kapalina), TappingMode (kapalina), Torsional Resonance Mode, Dark Lift, STM, SCM, C-AFM, SSRM, TUNA, TR-TUNA, VITA.